工业铝型材生产加工厂家

1：铝型材阳极氧化膜的膜厚测量方法

阳极氧化膜或阳极氧化复合膜的厚度测量方法有涡流测量方法和显微镜截面测量方法；显微镜截面测量法是破坏性测量方法，也就是从测量对象上截取试片，将测量部位截面抛光成镜面后，使用测微仪器读取厚度的方法，能够比较精确地测量膜层厚度；可是，在实际的铝型材产品中，由于不能破坏铝型材进行测量，因此常采用无损测量方法—涡流测量法；

（铝型材阳极氧化膜涡流测量方法示意图）

涡流测量方法不像显微镜截面测量方法，在测量前不需要对铝型材进行复杂的处理，只要对涡流测厚仪进行适当校正就可以进行测量了，因此涡流测量方法使用广泛；

2：涡流测厚仪的原理

上图所示为涡流测量方法的测量原理，内设高频感应线圈的探头中通高频电流，探头接近试片时，因高频电流产生的电磁感应，在铝型材基体上产生涡流；

这种涡流的流动方向起到妨碍探头感应线圈的电流通过的作用；这种作用的大小程度就表示探头与铝型材基体间的距离不同，探头与铝型材基体间的距离也就是测量的膜厚；测定铝型材阳极氧化膜的膜厚时，使用非磁性金属上绝缘膜厚度测定的仪器；

高频电流容易通过导体的表面，这种现象称为表面效应；这种表面效应产生的电流渗透深度与高频电流的频率和铝型材基体的电导率有关，铝型材基体厚度至少为该渗透深度的2.5倍；探头中通过的高频电流的频率因测量仪的制造商的不同而有差别，因此这个渗透深度也因各仪器厂商而存在差别；

3：铝型材阳极氧化膜厚测量时的注意事项

影响测量结果的主要因素有铝型材基体材质、铝型材形状、测量仪及测量者相关的因素等；测定值根据这些因素如何变化？需要事先掌握这些因素；采用A1050P的铝型材基体校准测量仪为0，测量其他材质板材的阳极氧化膜的厚度如下图所示，同样使用A1050P的铝型材基材校正为0，接着使用各种粒度的砂纸打磨相同材料表面时，表面粗糙度与外观膜厚的关系如下图所示；另外，手持探头操作时，容易产生由于探头温度的变化和探头压角引起的偏差，为了降低这些偏差，使用探头支架是非常有效的；探头形成用一定压力使探头的尖端压在铝型材的表面结构；测试较软涂层时，要确认涂层是否会因探头下的压力而产生凹陷；

（各种铝型材基体得到的阳极氧化膜厚度）

①铝型材基体材质相关因素：电导率、含金属间化合物的金相组织；

②铝型材基体形状相关因素：基体厚度、距端部距离、表面弯曲状态、表面粗糙度（含氧化膜表面）；

③测量仪及测量者相关因素：探头温度、探头压力、探头压下角度、探头的清洁度；

4：涡流测厚仪的管理及校准用标准板

使用涡流测厚仪时，仪器校准是前提；在涡流测厚仪的校准中，必须使用与试验材料相同材质及表面粗糙度的铝型材基体；曲面或端面位置影响测量，需要使用同一基体和位置进行校准方可测量；

JIS H8680-2-1998附录中记载了涡流测厚仪测量值重现性的功能检定，为校准仪器制作校准用标准板、制作管理用标准板即阳极氧化膜厚度标准试样；使用这种管理用标准板进行仪器的管理，一定的管理幅度内的测量值的确认是最重要的；在实际试验中，使用这种管理用标准板得到标准时，最初使用管理用标准板校准过的仪器测定校准用标准板的阳极氧化膜厚度，接着从同一批次中取出一片校准用标准板，用显微镜截面法测定其阳极氧化膜厚度；要求计算出这种校准用标准板的测量值与用涡流测量法测定值之间的修正系数，使用修正系数得到修正后的测量值；管理用的标准板或含塑料膜的校准用标准板因使用时间长而老化，因此希望根据使用频率更新；